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Eintrag

Kategorie:
Mikroskope

Art des Gerätes:
Focused Ion Beam Workstation (FIB)

Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur (optional):
Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie / Analytiklabor im Batterie-Center CARL

Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten (optional):
Probenpräparation mit Ga-Ionenstrahl

Identifikationsnummer (optional):
gemeinschaftslabor-fur-elektronenmikroskopie-analytiklabor-im-batterie-center-carl

Kurze Beschreibung des Gerätes (maximal 5000 Zeichen):
Zeiss Crossbeam 350 Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) mit patentierter GEMINI®-Elektronenoptik für hochauflösende Analytik und Abbildung. Das FE-REM ist ausgelegt für den Betrieb mit einem fokussierten Ga-Ionenstrahl (Ga-FIB) Spezifikation: 0.8nm bei 30kV STEM (optional), 0,9nm bei 15 kV 1,7nm bei 1kV (bei 20 nA Konfiguration) Beschleunigungsspannung: 20 V – 30 kV Strahlstrom: 5pA – 20nA (12pA - 100nA optional) Ion-sculptor FIB-Säule: Gallium-Ionenquelle mit langer Lebensdauer von 3000 μAh und hoher Strahlstromstabilität, Optimale laterale Auflösung: 3 nm bei 30 KV Energiebereich: 500V – 30 kV, Strahlstrom: 1 pA – 100 nA

Hersteller:
Zeiss

Jahr des Erwerbs (optional):
2022

Modell:
Zeiss Crossbeam 350

Notwendige / einschränkende Rahmenbedingungen für den Einsatz (optional):

Nutzergruppen:
Interne und Externe

Art der Nutzung:
Dienstleistung (intern und extern)

Fakultät:

• Faculty 1 – Mathematics, Computer Science and Natural Sciences
• Faculty 5 – Georesources and Materials Engineering
• Faculty 6 – Electrical Engineering and Information Technology

Fachgruppe / Lehreinheit (optional):

Institutskennziffer (IKZ):
025000

Website (optional)
https://www.gfe.rwth-aachen.de

Adresse (optional):
Campus-Boulevard 89, 52074 Aachen

Ansprechpartner*in:
Dr. Adrian Mikitisin

E-Mailadresse (optional):
mikitisin@gfe.rwth-aachen.de