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Eintrag

Kategorie:
Mikroskope

Art des Gerätes:
Transmissionselektronenmikroskop

Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur (optional):
Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie / DFG Gerätezentrum RI_0448

Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten (optional):
EDX, ASTAR Orientierungsanalyse, Phasenanalyse

Identifikationsnummer (optional):
gemeinschaftslabor-fur-elektronenmikroskopie-dfg-geratezentrum-ri-0448-3

Kurze Beschreibung des Gerätes (maximal 5000 Zeichen):
JEOL – JEM F200 Elektronenquelle: Schottky Field Emission Beschleunigungsspannung: 200 kV Punktauflösung: 0,23 nm Linienauflösung: 0,1 nm DF-STEM Auflösung : 0,14 nm Energieauflösung: ≤ 0,8 eV max. Kippwinkel: α / β max ± 80° (Tomo) / max. ± 31° EDX System: OXFORD AZtecEnergy TEM Advanced EDX 100mm²

Hersteller:
JEOL

Jahr des Erwerbs (optional):
2020

Modell:
JEOL – JEM F200

Notwendige / einschränkende Rahmenbedingungen für den Einsatz (optional):

Nutzergruppen:
Interne und Externe

Art der Nutzung:
Dienstleistung (intern und extern)

Fakultät:

• Faculty 1 – Mathematics, Computer Science and Natural Sciences
• Faculty 5 – Georesources and Materials Engineering

Fachgruppe / Lehreinheit (optional):

Institutskennziffer (IKZ):
025000

Website (optional)
https://www.gfe.rwth-aachen.de

Adresse (optional):
Ahornstr. 55, 52074 Aachen (Eingang Mies-van-der-Rohe Straße)

Ansprechpartner*in:
Apl.Prof. Dr. Thomas Weirich

E-Mailadresse (optional):
weirich@gfe.rwth-aachen.de