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Eintrag

Kategorie:
Mikroskope

Art des Gerätes:
Focused Ion Beam Workstation (FIB)

Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur (optional):
Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie / DFG Gerätezentrum RI_0448

Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten (optional):
Probenpräparation mit Ga-Ionenstrahl

Identifikationsnummer (optional):
gemeinschaftslabor-fur-elektronenmikroskopie-dfg-geratezentrum-ri-0448-6

Kurze Beschreibung des Gerätes (maximal 5000 Zeichen):
Dual Beam FIB: FIB Strata 400 FEI, jetzt Thermo-Fischer Company Ionenquelle: Ga Liquid Metal Ion Source - LMIS Beschleunigungsspannung Ionenstrahl: 0.5-30 kV Ionenstrahlstrom: 1.5pA-20nA Elektronenquelle: Feldemissionsquelle Beschleunigungsspannung Elektronenstrahl: 1-30kV Elektronenstrahlstrom: 5pA -24nA Sekundärelektronendetektoren: TLD :Through-lens detector CDEM : Channel Detection Electron Multiplier ETD: Everhart-Thornley Detector GIS - Gasinjektionssystem: Pt- (C9H16Pt) and C- (Carbon) containing gas Mikromanipulator: AutoProbe 200, Omniprobe, jetzt Oxford Company

Hersteller:
FEI

Jahr des Erwerbs (optional):
2018

Modell:
FEI Strata FIB 400

Notwendige / einschränkende Rahmenbedingungen für den Einsatz (optional):

Nutzergruppen:
Interne

Art der Nutzung:
Dienstleistung (intern und extern)

Fakultät:

• Faculty 1 – Mathematics, Computer Science and Natural Sciences
• Faculty 5 – Georesources and Materials Engineering

Fachgruppe / Lehreinheit (optional):

Institutskennziffer (IKZ):
025000

Website (optional)
https://www.gfe.rwth-aachen.de

Adresse (optional):
Ahornstr. 55, 52074 Aachen (Eingang Mies-van-der-Rohe Straße)

Ansprechpartner*in:
Apl.Prof. Dr. Thomas Weirich

E-Mailadresse (optional):
weirich@gfe.rwth-aachen.de