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Eintrag

Kategorie:
Mikroskope

Art des Gerätes:
Rasterelektronenmikroskop

Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur (optional):
Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie / DFG Gerätezentrum RI_0448

Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten (optional):
EDX und EBSD

Identifikationsnummer (optional):
gemeinschaftslabor-fur-elektronenmikroskopie-dfg-geratezentrum-ri-0448-7

Kurze Beschreibung des Gerätes (maximal 5000 Zeichen):
Feldemissions-REM Zeiss Gemini SEM 300 Laterale Auflösung von bis zu 0.7nm Variable Pressure, VP-Modus zur Untersuchung nichtleitender Proben Separate InLens-Detektoren für Sekundär- und Rückstreu-Elektronen zur hochauflösenden Arbeit bei kleinsten Arbeitsabständen Zeiss SmartStitch-Software zur automatisierten Aufnahme großflächiger Probenbereiche EDX-Detektor UltimMax 65 von Oxford Instruments Hochauflösende CMOS EBSD-Kamera „Symmetry“ von Oxford Instruments

Hersteller:
Zeiss

Jahr des Erwerbs (optional):
2019

Modell:
Zeiss Gemini SEM 300

Notwendige / einschränkende Rahmenbedingungen für den Einsatz (optional):

Nutzergruppen:
Interne und Externe

Art der Nutzung:
Dienstleistung (intern und extern)

Fakultät:

• Faculty 1 – Mathematics, Computer Science and Natural Sciences
• Faculty 5 – Georesources and Materials Engineering

Fachgruppe / Lehreinheit (optional):

Institutskennziffer (IKZ):
025000

Website (optional)
https://www.gfe.rwth-aachen.de

Adresse (optional):
Ahornstr. 55, 52074 Aachen (Eingang Mies-van-der-Rohe Straße)

Ansprechpartner*in:
Dr. Alexander Schwedt

E-Mailadresse (optional):
schwedt@gfe.rwth-aachen.de