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Eintrag

Kategorie:
Scanning electron microscopy

Art des Gerätes:
Rasterelektronenmikroskop

Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur (optional):
MTI, Werkstoffanalyselabor

Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten (optional):

Identifikationsnummer (optional):
mti-werkstoffanalyselabor-2

Kurze Beschreibung des Gerätes (maximal 5000 Zeichen):
Das REM am WAL ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer GEMINI-Säule Sigma 500 VP der Fa. Zeiss mit Vakuumsystem für variablen Druck. Das REM ermöglicht hochpräzise SE- und RE/BSE- Bilder, sowie EDX und EBSD Analysen. Eine Probenkippung ist von -3° bis 70 °, sowie eine Probenrotation um 360° möglich. Die geräumige Kammer des REM lässt das Einschleusen von großen Bauteilen (je nach Geomtrie) zu.

Hersteller:
Zeiss

Jahr des Erwerbs (optional):
2017

Modell:
Sigma VP 500

Notwendige / einschränkende Rahmenbedingungen für den Einsatz (optional):

Nutzergruppen:
Interne

Art der Nutzung:
Dienstleistung (intern und extern)

Fakultät:

• Faculty 4 – Mechanical Engineering

Fachgruppe / Lehreinheit (optional):

Institutskennziffer (IKZ):
417410

Website (optional)
https://www.mti.rwth-aachen.de/go/id/bgdkxl

Adresse (optional):
Campus-Boulevard 30, 52074 Aachen

Ansprechpartner*in:
Marina Kemperle

E-Mailadresse (optional):
m.kemperle@mti.rwth-aachen.de