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Eintrag

Kategorie:
X-ray analytics

Art des Gerätes:
Röntgenographische Analyse der Eigenspannungen

Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur (optional):
Sonstiges/Other

Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten (optional):

Identifikationsnummer (optional):
sonstiges-other-285

Kurze Beschreibung des Gerätes (maximal 5000 Zeichen):
EN: An X-ray diffraction system of residual stresses in crystallineis used for the non-destructive determination materials. The measurement principle is based on the evaluation of lattice strain by analyzing shifts in diffraction peak positions at different sample tilts. From these strain measurements, residual stresses near the surface can be calculated using established X-ray stress analysis methods, such as the sin²ψ method. The system enables the characterization of residual stress states in metallic materials. A key feature of the system is its flexible use of different X-ray radiation sources, such as Cr, Cu, Co. This allows the measurement conditions to be adapted to the investigated material, the relevant diffraction planes, and the required penetration depth. As a result, the system provides high versatility for residual stress analysis in a wide range of engineering materials. In addition to residual stress measurements, the instrument can also be used for phase analysis and texture investigations. DE: Eine Röntgendiffraktometrieanlage wird zur zerstörungsfreien röntgenographischen Bestimmung von Eigenspannungen in kristallinen Werkstoffen eingesetzt. Das Messprinzip basiert auf der Auswertung elastischer Gitterdehnungen, die über Verschiebungen der Beugungsmaxima bei unterschiedlichen Probenkippungen bestimmt werden. Aus diesen Dehnungsmessungen können oberflächennahe Eigenspannungen mit etablierten röntgenographischen Auswerteverfahren, beispielsweise der sin²ψ-Methode, berechnet werden. Die Anlage ermöglicht die Charakterisierung von Eigenspannungszuständen in metallischen Werkstoffen. Eine Besonderheit der Anlage ist die flexible Nutzung verschiedener Röntgenstrahlungsquellen, beispielsweise Cr, Cu, Co. Dadurch können die Messbedingungen gezielt an den untersuchten Werkstoff, die relevanten Beugungsebenen und die erforderliche Eindringtiefe angepasst werden. Die Anlage bietet damit eine hohe Vielseitigkeit für die Eigenspannungsanalyse an unterschiedlichen technischen Werkstoffen. Neben der Bestimmung von Eigenspannungen kann das System auch für Phasenanalysen und Texturuntersuchungen.

Hersteller:
Seifert

Jahr des Erwerbs (optional):
2004

Modell:
S3003

Notwendige / einschränkende Rahmenbedingungen für den Einsatz (optional):

Nutzergruppen:
Interne und Externe

Art der Nutzung:
Dienstleistung (intern und extern)

Fakultät:

• Faculty 4 – Mechanical Engineering

Fachgruppe / Lehreinheit (optional):

Institutskennziffer (IKZ):
418110

Website (optional)

Adresse (optional):

Ansprechpartner*in:
Alexander Bezold

E-Mailadresse (optional):
services@iwm.rwth-aachen.de