Infrastrukturliste
| Institutskennziffer (IKZ) | Bezeichnung der übergeordneten Forschungsinfrastruktur | Art des Gerätes | Hersteller | Zusätzliche Methoden und Synergien mit anderen Geräten | Modell |
|---|---|---|---|---|---|
| 523110 | Tescan Clara FEG-SEM | In-situ Nanoindenter | FemtoTools | Dynamic mechanical analysis (DMA), quasi-static nanoindentation, continuous stiffness measurement (CSM) method, micropillar compression | FT-NMT04-XYZ |
| 523110 | Tescan Clara FEG-SEM | In-situ High-Temperature Nanoindenter | KLA | Dynamic mechanical analysis (DMA), quasi-static nanoindentation, continuous stiffness measurement (CSM) method, micropillar compression | InSEM |
| 523110 | Sonstiges/Other | Nanoindenter | KLA | High-speed nanoindentation (Nano Blitz 3D/4D), continuous stiffness measurement (CSM) method, strain rate jump test (SRJT) | iNano |
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